La 13ème édition de cette conférence internationale, organisée par le groupe d'étude de la matière condensée (GEMaC), se déroulera du 5 au 9 juin 2016 à Versailles. Des scientifiques du monde entier présenteront leurs avancées en caractérisation physique des semiconducteurs par les techniques d'injection à base de faisceaux focalisés. Date limite d'inscription : 1er juin 2016.