3ème Ecole Française de « Réflectivité SAXS, GISAXS et Diffraction de Surfaces »

- 3ème Ecole Française de « Réflectivité SAXS, GISAXS et Diffraction de Surfaces »

 

Cette école thématique qui s’adresse à des doctorants et chercheurs voulant s’initier et se perfectionner aux techniques de réflectivité, SAXS, GISAXS et diffraction de surface, se déroulera du 4 au 8 mai 2008, au V.V.F. de la presqu'île de Giens, Giens.
Date limite d'inscription : 10 avril 2008.

 

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