Christophe BoyavalAssistant ingénieur en instrumentation des semiconducteurs

Responsable du pôle caractérisation de la Plateforme centrale de micro nano fabrication de l’Institut d'électronique, de microélectronique et de nanotechnologie1  (IEMN).

" J'ai intégré l'IEMN en 1995 sur les activités de microscopie à balayage électronique (MEB). Une quinzaine d’années plus tard, l’Equipex Excelsior avait pour objectif de faire émerger des recherches aux interfaces entre la microscopie à l'échelle nanométrique et les techniques de caractérisations couvrant les domaines des micro-ondes au moyen infrarouge. J'ai ainsi participé au développement de deux instruments inédits opérant sous MEB et permettant des applications uniques en termes de caractérisations hybrides à l’échelle nanométrique et en environnement contrôlé. Imaginer et concevoir ces nouveaux instruments à la pointe de la technologie, coupler ces techniques de mesure, interagir avec des collègues de spécialités transversales : tels sont les défis qui m'ont motivé. "

• Institut d'électronique, de microélectronique et de nanotechnologie
• Institut des sciences de l’ingénierie et des systèmes
• Délégation Hauts-de-France

• 1CNRS/Université de Lille/Université polytechnique Hauts-de-France/Centrale Lille Institut